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光谱型椭偏仪
时间:2013-11-28 字体大小:
 型 号(Model): M-2000DI

生产商(Manufacturer): J.A.Woollam Co.,Inc.

用 途(Applicatio): 
单层或多层薄膜的厚度和光学常数的测定. 
Used for measuring the thickness and optical constants of transparent or semi-transparent single film or multilayer.

主要参数(Main Parameters): 
波长范围(Wavelength Range):190~1700 nm
光谱分辨率(Resolution):1.6 nm(Wavelength<1000 nm);3.7 nm(Wavelength>1000 nm) 
自动入射角范围(Incidence Angle Range):45~900
自动样品台(Stage Size):150 mm*150 mm
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